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產(chǎn)品展示
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產(chǎn)品名稱:G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀

產(chǎn)品型號:DRK-W系列

產(chǎn)品報價:

產(chǎn)品特點:DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀,設(shè)備的高品質(zhì)和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如:材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。

DRK-W系列G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀的詳細資料:

DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀,設(shè)備的高品質(zhì)和所測樣品的廣泛性使得它在實驗室的實驗研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如:材料、化工、制藥、精細陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。

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DRK-W系列 G/BT 19077.1-2008 德瑞克激光粒度分析儀,技術(shù)參數(shù):

型號

DRK-W1

DRK-W2

DRK-W3

DRK-W4

理論依據(jù)

Mie散射理論

粒徑測量范圍

0.1-200um

0.1-400um

0.1-600um

0.1-1000um

光源

半導體制冷恒溫控制紅光固體激光光源,波長635nm

重復性誤差

<1%(標準D50偏差)

測量誤差

<1%(標準D50偏差,用國家標準顆粒檢驗)

檢測器

32或48通道硅光電二極管

樣品池

固定樣品池、循環(huán)樣品池(內(nèi)置超聲分散裝置)

測量分析時間

正常條件下小于1分鐘(從開始測量到顯示分析結(jié)果)

輸出內(nèi)容

體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表;多種統(tǒng)計平均直徑;操作者信息;實驗樣品信息、分散介質(zhì)信息等。

顯示方式

內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級別的電腦,可連接鍵盤、鼠標、U盤

電腦系統(tǒng)

WIN 10系統(tǒng),30GB硬盤容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存

電源

220V,50 Hz

DRK-W系列 德瑞克激光粒度分析儀工作條件:

1.室內(nèi)溫度:15℃-35℃

2.相對溫度:不大于85%(無冷凝)

3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV,無強磁場干擾。

4.由于在微米級的范圍內(nèi)的測量,儀器應(yīng)放在堅固可靠、無振動的工作臺上,并且在少塵條件下進行測量。

5.儀器不應(yīng)放在太陽直射、風大或溫度變化大的場所。

6.設(shè)備必須接地,保證安全和高精度。

7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無腐蝕性氣體。

注:因技術(shù)進步更改資料,恕不另行通知,產(chǎn)品以后期實物為準。



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